天瑞儀器 EDX600PLUS 是一款下照式結構的能量色散 X 熒光光譜儀鍍層測厚儀，以下是它的一些詳細介紹1：
工作原理：將 X 射線照射在樣品上，通過測量從樣品上反射出來的二次 X 射線的強度來計算鍍層等金屬薄膜的厚度。由于采用 X 射線熒光技術，屬于無接觸無損測量，不會對樣品造成損壞。
硬件配置：
進口的高功率高壓單元搭配微焦斑的 X 光管，保證了信號輸出的效率與穩定性。
采用高分辨率 Fast - SDD 探測器，分辨率高達 140eV，能精準地解析每個元素的特征信號，地將不同的元素準確解析，針對多鍍層與復雜合金鍍層的測量具有優勢。
可搭配多種超小準直器，如 0.1×0.3mm、Φ0.15mm、Φ0.2mm、Φ0.3mm、Φ0.5mm 等，得到超小光斑，讓更小樣品的測量變得游刃有余。
設計亮點：
全新的下照式設計，一鍵式按鈕，極大減少擺放樣品時間。
全新的光路系統，大大減少了光斑的擴散，實現對更小產品的測試。
搭配高分辨率可變焦攝像頭，配合高性能距離補正算法，可對不規則樣品（如凹凸面、拱形、螺紋、曲面等）的異型測試面進行精準測試。
軟件界面：人性化的軟件界面，操作便捷。曲線有中文備注，易于上手。同時能實時監控儀器硬件功能，讓使用更加放心。
功能特點：
應用領域：廣泛應用于光伏行業、五金衛浴、電子電器、航空航天、磁性材料、汽車行業、通訊行業等領域，可用于連接器、汽車配件、線路板、半導體等產品的鍍層厚度測量。
產品簡介
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