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光譜型膜厚測試儀：俗稱X熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀，電鍍層厚度分析儀，金屬鍍層測厚儀，電鍍厚度測量儀，電鍍厚度檢測儀，連續度檢測儀，光譜鍍層測厚儀，鍍層厚度分析儀，鍍層測量儀，電鍍層分析儀等； 功能：精密測量金屬電鍍層的厚度；

Thick 8000電鍍層膜厚測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于：金屬鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅）的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。 電鍍層膜厚測試儀

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