X射線熒光光譜儀的測試步驟是什么？
X射線熒光光譜儀是基于X射線的一種分析手段，當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結(jié)合能，將該軌道電子逐出，形成一個空穴使原子處于激發(fā)態(tài)，由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài)，躍遷時釋放出的能量以輻射的形式放出便產(chǎn)生X熒光。
X熒光具有特征的波長，對應(yīng)的即是特征的能量，通過對光子的特征波長進(jìn)行辨識，XRF能實(shí)現(xiàn)對元素的定性分析，通過探測特征波長的X射線光子的強(qiáng)度，實(shí)現(xiàn)元素的定量和半定量分析。
X射線熒光光譜儀的測試步驟如下：
1、選擇分析方法與制樣方法。分析方法一般有基本參數(shù)法、半基本參數(shù)法、經(jīng)驗系數(shù)法等，制樣方法一般有拋光法、壓片法、濾紙片法和熔片法，本司常用粉末壓片法制樣，采用基本參數(shù)法測試。
2、將制備好的樣片裝進(jìn)樣品杯，放入樣品交換器中，自動進(jìn)樣至樣品室，X射線管發(fā)出原級X射線照射樣品，激發(fā)出待測元素的熒光X射線。
3、樣品輻射出的熒光X射線通過分光晶體，將X射線熒光光譜色散成孤立的單色分析線，由探測器測量各譜線的強(qiáng)度，根據(jù)選用的分析方法換算成元素濃度，得到樣品中待測元素含量。
X射線熒光光譜儀的工作原理是由X光管發(fā)射的原級X射線入射到樣品上 ，樣品元素受激發(fā)射出熒光X射線，并與原級X射線的散射線一起，通過準(zhǔn)直器(索勒狹縫)，以平行方式投射到晶體表面，按布拉格條件發(fā)生衍射，衍射的X射線與晶體散射線一起。
并通過次級準(zhǔn)直器（稱探測器準(zhǔn)直器）進(jìn)入探測器，進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，把不可直接測量的光子轉(zhuǎn)變成為可以測量的電信號脈沖。探測器的輸出脈沖經(jīng)放大器幅度放大和脈沖高度分析器的幅度甄別后，即可通過定標(biāo)器和進(jìn)行測量由計算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，輸出結(jié)果。
更新時間：2020-08-17
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